UHV AFM/STM是多用途的扫描探针显微镜,专为室温超高真空实验而设计。

该产品同时具备STM和AFM功能,后者包括可以同时检测横向力(摩擦力)的接触式AFM和非接触模AFM。自1993年起,超过200台该类产品已在世界各地成功交付和安装。科学家Barth等人[1]采用Omicron NanoScience的UHV STM/AFM的非接触模式在世界上首次观察的到了绝缘体(AL2O3(0001))表面的原子像。

[1] C. Barth et.al. Nature 414, 54 (2001)

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