OmniProbe 400

第九代纳米操作器OmniProbe 400采用创新压电驱动进行一流的纳米级定位。为达到最大灵活性和性能,OmniProbe 400经过优化,是用于高分辨率、高通量应用的顶级纳米操作器。


性能

使用经优化的工作距离,可轻易地在扫描电子显微镜(SEM)中进行纳米级操作和测试,在聚焦离子束显微镜(FIB)中进行各种各样的切出式透射电子显微镜(TEM)样品制备。

  • 4个自由度(X、Y、Z、R)
  • 4mm或更高的工作距离
  • 4个优势:编码器分辨率、电机分辨率、重复性、线性

 

特点和益处

精确

纳米级分辨率压电驱动器和10纳米闭环编码器可提供行业领先的精确度、线性和平稳运动。

 

快速

多级自动化通过尽可能少的步骤,便可获得结果。

  • 插入重复性好,免去了重新定位针尖的麻烦。
  • 3分钟内便可更换好针尖,无需泄真空。
  • 同心旋转有助于迅速让针尖变得锋利、清洗针尖和将样品重新定位。
  • 安全、准确地引至靠近样品的储存位置并返回至停放位置

 

精确的闭环反馈控制

OmniProbe 400采用闭环控制,以保证运动平稳、精确度可靠,整合程度高。除了运动分辨率非常高外,OmniProbe 400还标配了电动同心旋转和迅速的原位针尖更换等功能。

  • 非气动插入和收回对易碎样品的影响极弱。
  • 可朝任何方向(全方位)进行对角运动。
  • 以任何样品倾斜度进行正交引导。
  • 迅速将样品定位于特定角度。
  • 可在较长距离内进行平稳、准确的操作。
  • 始终清楚探针针尖的位置,甚至脱离视野时也清楚。
  • 为方便所有端口安装,可有预见性地移动。
  • 使用固定和用户可编程的位置,减少操作员疲劳并提高成功率。
  • 避免碰撞。
  • 同心旋转。
  • 原位更换针尖。

原位更换针尖

  • 可在不对显微镜进行排气的情况下,在不到3分钟时间内更换探针。
  • 避免大气污染且保持高真空度,从而保证最佳性能。
  • 可安全地贮存接至针尖的样品,以便今后使用,允许多用户保持其通量。

同心旋转

针尖处于视野内,以便迅速让针尖成形并重新定位样品,不存在样品损失或意外排气的风险。

  • 以分度精确度进行定位。
  • 延长探针使用寿命。
  • 形成符合欧姆特性的细针尖。
  • 制备采用范德华力进行纳米颗粒操作的微型针尖。
  • 重新定位样品,以便绘制平面图、侧视图和后视图。

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