这款无窗的硅漂移能谱仪专为TEM而设计,使用时可以获得0.3-0.7的立体角*。它可以高效且敏感地探测、接收以及处理在整个能量范围内的X射线,这意味着这款能谱仪可以在相同条件下获得比以往更高的计数率,因此它的优越性在应用于轻元素分析时更加明显。

  • X-MaxN TSR是常规200 kV场发射电子显微镜的理想能谱仪:
  • 对轻元素的探测敏感性提高了3倍;
  • 在低能X射线范围内的表现、峰/背比以及分辨率等方面都有高质量的保障。

*取决于探头结构、极靴以及电子显微镜型号。在TEM中能谱仪的很重要的技术指标就是其能达到的最大立体角,而这个数值与电子显微镜和极靴的设计紧密相关。X-MaxN TSR的设计采用了优化的探头晶体与样品间的距离,并因此更大限度的获得高角度的立体角。

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