在2千伏或更低条件下对材料进行表征。

  • 利用SEM极低电压表征样品时充分整合EDS
    • 提高信号对比度
    • 减少样品损伤,如聚合物和软镀层
    • 减轻放电或达到充放电平衡条件

示例

从10千伏降低电压至1.5千伏可提高电子图像衬度以显示氧化物颗粒分布。相同条件下采集的X-ray面分布图以表征MnOB析出物。面分布采集时间15分钟。样品由JFE钢铁提供.