CMI 760 PCB through-hole and copper surface measurement gauge可适用于测量孔内镀铜厚度和表面铜-CMI760

CMI760一款可用于测量孔内镀铜厚度和表面铜的台式PCB专用铜厚测量仪

CMI760台式测厚仪拥有非常高的多功能性,它集快速精确、简单易用、质量可靠等优势于一体,同时它也是专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的电镀铜测量而设计。

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CMI 700

SRP-4 Probe - Surface Copper Measurements

SRP-4N Probe - Surface Copper Measurements (narrow tip)

ETP Probe - Through-Hole Measurements

 

CMI760

Yes

 

 

 

CMI760N

 

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CMI760E

Yes

 

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CMI760EN

 

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