原子力显微镜 - 表征石墨烯及下一代二维材料不可或缺的工具
2017年7月23日

2017年7月12日 (Santa Barbara, CA), 自2004年发现剥离的石墨烯以来,二维材料领域一直是当今科研的热点。目前对二维材料的研究已不仅局限于石墨烯材料,各种新型的二维材料以及相关的制备方法将二维材料的研究推至一个新的高度。原子力显微镜能直接测试和表征各种二维材料的独特性能。牛津仪器Asylum Research部门总结了二维材料领域的最新研究进展,撰写了针对二维材料领域的应用手册,期望通过该手册让研究者更详细地了解AFM在二维材料研究中的作用。应用手册链接如下: http://www.oxford-instruments.cn/industries-and-applications/nanotechnology/2d-matericals-app?src=mn

Asylum Research应用科学家Keith Jones 解释到 : “ 做为一种高分辨率的成像表征工具,AFM 能够轻易的测量原子台阶厚度以及原子晶格结构来表征二维材料。除此之外, AFM能够从纳米尺度表征材料的电学,力学和功能特性。 AFM 不仅仅能够表征表面形貌,其更大的作用在于能够表征下一代功能器件中的二维材料性能。”

Asylum Research 原子力显微镜 Cypher 和 MFP-3D 系列已被广泛的用来进行超高分辨率成像、纳米电学、纳米力学的性能表征。Asylum的产品的操作越来越简单,功能模式越来越多。无论研究者是否具有过使用AFM的经验都可以利用我们的产品进行二维材料的研究。

Figure caption: Stanford et.al.sci.Rep.6,27276(2016) 二维的二硒化钨材料晶体管的表面形貌和表面电势图。表面电势图像让研究者更好的了解如何通过氦离子束加工样品以更好的调控设备的电学特性。

 
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