牛津仪器邀您参观2017中国国际电子电路展览会CPCA
2017年2月13日

QQ截图20170203133309-(2).jpg由国家工业和信息化部支持,中国印制电路行业协会、上海颖展展览服务有限公司主办的第二十六届中国国际电子电路展览会(CPCA SHOW 2017)将于3月7-9日在国家会展中心(上海) 7.1H 馆、8.1H 馆举办。

牛津仪器如往年一样在现场搭建了大型展台,并展出全系列镀层测厚仪。牛津仪器镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析,可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。微聚焦XRF镀层测厚及元素分析仪,用于PCB/PWB精饰和电子配件电镀的快速质量控制和验证测试,让您在几秒内轻松得到正确结果。

优化的微聚焦硬件和直观的用户界面,简化了常规分析,提高了产出,使用“一键式”操作可确保最简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱,获得定制的校准和探索未知的材料。

X-Strata 和 MAXXI 系列产品能分析功能性涂料和电路板、电子元器件、集成电路(IC)、硬盘驱动器(HDD)和光电产品上的镀层。

牛津仪器镀层测厚仪不仅仅有检测精度极高的台式X荧光光谱仪Eco系列、MAXXI 系列、X-Strata 920,还有方便易用的便携式CMI 系列镀层测厚仪。

我们的展位号是7.1H馆7M39,欢迎参观!

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