网络讲堂邀请:X射线荧光法直接测定NiP镀层厚度和含量
2016年12月22日

主题:X射线荧光法直接测定NiP镀层厚度和含量

开始时间: 2017-1-12 15:00
结束时间: 2017-1-12 16:00
主讲人: 董松林,牛津仪器(上海)有限公司台式荧光应用工程师,长期从事X射线荧光仪和XRF分析方法的应用与技术支持工作。

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【内容简介】

化学镍(NiP)镀层应用在表面处理行业非常广泛,但生产工艺控制中对于NiP镀层的厚度和成分同时监控是一个难点。传统的分析方法是预设NiP比例,然后测试厚度。无法做到同时测量。

本次讲堂介绍一种使用XRF方法同时测定NiP镀层厚度和组成的解决方案。通过对测试所需仪器的硬件介绍,几个具体案例和实际测试数据来说明NiP厚度与组成同时测量的可行性。

报名请点击-2_4.png

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