牛津仪器参加半导体缺陷识别、成像与物理国际学术会议
2015年9月11日

本次会议于2015年9月6日至9月10日在江苏省苏州市举行,会议由中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所主办,浙江大学硅材料国家重点实验室和厦门大学物理学院等单位协办。该会议于1985年在法国蒙彼利埃创办,每两年举行一次,已经在国际半导体研究领域形成广泛的影响。
 
为期4天的会议中,牛津仪器现场展示了纳米分析、纳米科学、等离子科技、纳米器件的显微光谱和成像以及原子力显微镜解决方案。来自牛津仪器Asylum Research原子力显微镜部门的技术专家Oskar Amster在会议中作了题为Extending Electrical Scanning Probe Microscopy Measurements of Semiconductor Devices using Microwave Impedance Microscopy 的演讲报告,并现场进行了设备演示。
牛津仪器将继续以支持中国科学研究发展为己任,为中国广大科研人员提供高性能、高可靠性的纳米研究设备;同时牛津仪器的服务团队也可以为用户提供系列服务套餐,包括配件和耗材、延保合同、产品培训、服务维修和技术支持等。
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