牛津仪器纳米分析部亮相成都全国电镜会议
2015年11月1日

10月13日至18日,牛津仪器纳米分析部携电子显微学解决方案亮相本届全国电镜年会。此次大会是由中国电子显微镜学会主办,会议学术交流内容包括:透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜(包括STM、AFM等)、激光共聚焦显微镜等在材料科学、生命科学、物理学、化学化工、环境科学、地学等领域中的基础研究和应用研究成果;显微学相关仪器理论、技术和实验方法的发展与改进;电镜及其它显微学仪器的使用、改进与维修经验等。
牛津仪器纳米分析应用专家两场专题报告,分别题为“超级能谱仪X-Max Extreme在轻元素及高空间分辨分析中的应用”以及“EBSD在材料微结构分析中的应用”,引起与会者积极讨论。
超级能谱X-Max Extreme全新硅漂移探测器是能谱探测器领域的又一突破,其采用优化的径向几何设计,可实现在超高分辨场发射扫描电镜的低电压及小工作距离条件下同时采集图像和能谱,显著地提高了灵敏度和空间分辨率。更多产品详情欢迎访问:www.oxford-instruments.cn/XMaXExtreme
NordlysMax3是快速的EBSD探测器。实时采集、标定、显示结果速度达到1580点/秒!更多产品详情欢迎访问:www.oxford-instruments.cn/NordlysMax3
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牛津仪器将继续以支持中国科学研究发展为己任,为中国广大科研人员提供高性能、高可靠性的纳米分析设备;同时牛津仪器的服务团队也可以为用户提供系列服务套餐,包括配件和耗材、延保合同、产品培训、服务维修和技术支持等。
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