牛津仪器参加2014年全国电子显微学年会
2014年10月31日

2014年全国电子显微学年会于10月14-18日在广西省南宁市召开,本次会议主要是透射/扫描电子显微镜等在材料科学、生命科学、物理学等领域中的基础研究及仪器技术发展进展等内容。本届大会的最大亮点是越来越多的海外学者,尤其是在某领域已颇有建树的成功的学者回到国内各个高校或科研院所,并成为各个研究团队的带头人。

牛津仪器把握了本次大会最新、最强的主题,适时提出在球差透射电镜上配备最先进的无窗型透射能谱仪,恰恰是原子级元素检测的最佳利器。而扫描电镜中使用的目前市场上晶体面积最大的150mm2X-MaxN型能谱仪更是高空间分辨率获得的最大保证,同时因其可以在极低的加速电压下工作,极大的扩展了扫描电镜上能谱分析的领域,如生物、复合材料等辐照敏感材料的研究。而针对目前研究火热的石墨烯、MoS2等二维材料厚度的研究,牛津仪器及时的推出AZtecLayerprobe薄膜厚度分析技术,可以精确至1nm测定二维材料的膜层厚度,确认单层膜亦或多层膜。使二维材料厚度测试工作从以往仅靠经验判断灰度差异而彻底转入科学可靠的测试手段。

同时由于扫描电镜显微分析的局限性,毕竟不总能代表大块状样品的信息,因此牛津仪器推出了大面积EDS及EBSD检测功能AZtecLAM,可以自动控制样品台移动对整个样品做元素及结构信息的检测。充分发挥扫描电镜微区放大功能,同时扩展其向宏观检测的新领域。

而针对目前EBSD研究的最新透射型EBSD(T-EBSD)技术,牛津仪器也推出了专用样品台,用于小于20nm或大变形样品的检测。检测样品选择以往透射电镜使用的薄片状样品,在高加速电压下,以EBSD探测器接收穿透样品表面的背散射衍射花样,因此称为T-EBSD或TKD技术。牛津仪器应用科学家杨小鹏专门在纳米结构分会场对此技术做深入介绍,受到众多师生的关注。

先进的技术依赖更先进领域研究的推动而进步,而牛津仪器一直以来立足于国内外最新研究的要求,不断推出更加强大、功能更加全面的设备及系统。并时刻以支持中国科学研究发展为己任,为中国广大科研人员提供高性能、高可靠性的纳米表征仪器能谱仪、原子力显微镜等。同时牛津仪器的服务团队还将为用户提供一系列的服务套餐,包括配件和耗材、延保合同、产品培训、服务维修和技术支持等。

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