牛津仪器Asylum Research发布能够对任何材料的电容和电导进行纳米成像的新型扫描微波阻抗显微镜
2014年1月22日

2014年1月15日,牛津仪器Asylum Research发布新型原子力显微镜技术-扫描微波阻抗显微镜[Scanning Microwave Impedance Microscopy(sMIM)]。该技术能够以空前的灵敏度和分辨率对导体、半导体以及绝缘体等任何样品的电容和电导进行纳米成像。牛津仪器Asylum Research一贯倡导的理念就是“超越形貌”-原子力显微镜除了能进行高分辨率的成像之外,还能对更有价值的纳米机械性能和纳米电学性能进行测试。而sMIM就是在这一理念的最新产物,其将PrimeNano公司的专利探针技术和电子技术与Asylum Research的原子力显微镜完美的结合在一起。牛津仪器Asylum Research的MFP-3D™ 和 Cypher™是唯一拥有sMIM技术的两款原子力显微镜。

原子力显微镜的纳米电学模式应用在微电子学的研究中已有很长一段时间,因为它能够提供设备结构,功能和失效等方面的重要信息。但是绝大多数传统AFM电学模式存在着固有的缺陷:无法同时测试电阻和电容;样品制备复杂。而sMIM完全克服这些固有的缺陷:高灵敏度的同时测量电容(介电常数)和电导(电阻);同时样品的制备极为简单。正是因为这些卓越的特性,sMIM能够广泛的应用于各种材料,如铁电体、压电体以及低维纳米材料(如石墨烯、氮化硼以及二硫化钼)等。

牛津仪器Asylum Research的应用科学家Keith Jone说:“sMIM是我在这个原子力显微镜纳米电学测试领域工作12年以来所见到的最大进展。它能够同时对电导和电容进行成像,提供更加完整的样品图像。其灵敏度和分辨率也远远高于其它相关技术。”

PrimeNano公司的CEO Dr.Stuart Friedman进一步解释,“PrimeNano 开发的扫描微波阻抗显微镜的核心技术是由美国斯坦福大学的沈志勋教授开发。通过专利技术的探针和为sMIM特殊优化的电路系统,能够让我们得到优于其它任何同类技术的结果。我们非常高兴和牛津仪器Asylum Research合作开发完整的sMIM技术。因为有了世界上最好的原子力显微镜,sMIM的功能将变得更强大。”

更多信息敬请参阅http://www.AsylumResearch.com/sMIM 或邮件sales@asylumresearch.com

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牛津仪器Asylum Research发布能够对任何材料的电容和电导进行纳米成像的新型扫描微波阻抗显微镜