如何快速准确地测量材料纳米力学性能 — 牛津仪器1月15日的AFM网络讲堂将为您解答
2014年12月26日

 

报告题目:材料纳米力学性能的快速准确定量AFM成像

报告人:姚检军 博士(应用科学家)

报告时间:2015年1月15日  上午10点-11点

注册链接:https://www3.gotomeeting.com/register/961250686

材料的纳米力学性能一直是材料学家关心的热点,本次报告将介绍研究材料的纳米力学机械性能的两项新技术-- AM-FM粘弹性模式(Viscoelastic Mapping Mode)和损耗正切模式(Loss Tangent )。传统的轻敲模式被证明是一种使用最广泛的快速成像技术,但一直以来对于轻敲模式所得到的信号难以定量表征。最新的AM-FM粘弹性模式 (Viscoelastic Mapping Mode )是在轻敲模式的基础上开发,同时结合频率调制(Frequency Modulation)技术的高灵敏度和定量特点。损耗正切模式(Loss Tangent )是最近开发的另外一种定量表征轻敲模式相位(phase)信号的技术,它能准确定量揭示探针和样品相互作用的能量损耗和能量储存。AM-FM粘弹性模式(Viscoelastic Mapping Mode)和损耗正切模式(Loss Tangent )以传统的轻敲模式的快速扫描和微弱力特点成像,同时获取样品的定量弹性模量和损耗因子(Loss Tangent )。

我们会在线上的听众中随机抽取5名幸运观众,赠送精美礼品,报名后请记住讲座时间,别错过我们可爱的小礼品~!

销售热线:400 621 5191          

服务热线:400 622 5191

如何快速准确地测量材料纳米力学性能 — 牛津仪器1月15日的AFM网络讲堂将为您解答