牛津仪器发布最灵敏SDD能谱仪
2013年11月1日

原子级的纳米分析

牛津仪器作为纳米分析系统生产厂家中的领跑者,最近发布了透射电镜上配备的最新能谱仪。该能谱仪的灵敏度代表了当前SDD探头技术的最高水平。这款X-MaxN 100TLE探头为工作在纳米科学前沿的场发射和球差矫正TEM用户提供了完美的解决方案。

X-MaxN 100TLE探头应用了有效面积100mm2的晶体,无窗设计,提供超大固体角的新颖机械设计。以N Ka X射线为例,其有效固体角比传统的30mm2 SDD探头大了12倍。这意味着用户可以检测到更低浓度的元素,例如纳米级别的杂质和参杂物。另一个好处是可以在电子束破坏敏感样品前采集到更多的数据。

正如牛津仪器纳米分析市场总监Del Redfern先生说“这是我们SDD探头中的旗舰产品,它体现了灵敏度和速度的大飞跃。在高分辨TEM的试验中,我们甚至可以在60秒内采集到原子列面分布图。”

纳米分析部

纳米分析是能够在纳米级别进行材料表征及样品处理的尖端工具。 利用电子显微镜以及离子束系统,我们的设备可广泛应用于学术研究和工业应用,包括半导体、可再生能源、采矿、冶金以及法医学等领域。
 

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