牛津仪器为电子行业推出最新高性价比的过程控制应用方案
2013年8月28日

牛津仪器工业分析部,作为全球领先的高质量材料鉴定与镀层测厚仪器的供应商,现在宣布推出最新技术应用报告:使用台式X射线荧光光谱仪X-Strata920实现PTZ陶瓷镀银分析,符合ISO3497和ASTM B568标准。

牛津仪器公司于2012年发布了X射线荧光光谱仪X-Strata920,用于镀层厚度测量和材料分析。这次最新的应用报告展示了X-Strata920能够高效地完成镀层厚度测量,并按照国际检测方法ISO347和ASTM B568检测金属和一些非金属镀层。由于这款仪器装有大面积探测器和牛津仪器自行研发的微焦距X射线光管,它能够提供高强度小斑点的X射线光束,从而满足更好地样品激发和元素检测。经过验证,X-Strata920是检测金属镀层最理想的工具。而且,它能保证在同级别仪器中精确性最佳,几秒钟就获得分析结果,确保过程控制更好、成本更低、效率更高。
 
X-Strata920性能卓越,能够低成本高效率地对各种行业中的多镀层装配件进行质量控制分析,包括电子行业、五金电镀、合金和贵金属检测。对于这些行业,X-Strata920能为客户带来:
 
加强过程控制,提高生产力
把电镀过程的成本降到最低
对珠宝和其他合金进行快速无损分析
提供多达4层的分析,比如电子器件镀层Au/Ni/Cu、Pd/Ni/Cu、Ag/Sn/Cu等的检测
经过认可的技术能确保可靠性更佳,今后不断带来价值回报
保证操作简单,基本不需要培训,结果不会随操作人员变化而变化
 
对于常规操作,X-Strata920分析结果可导出到不可编辑的PDF文件以确保数据安全性,或者也可以通过网络直接导出到Excel文件。现在这份报告重点介绍X-Strata920在PTZ陶瓷镀银的分析。如果想获得这份应用报告,请发送邮件到industrial@oxinst.com并在主题中注明“X-Strata920在PTZ陶瓷镀银的应用报告”。