牛津仪器纳米分析部在2013年M&M上重磅推出全新应用技术
2013年8月27日

牛津仪器作为显微分析领域的领先者,于2013 M&M展会中推出AZtec显微分析系统的最新技术。该技术包括实现超大面积分布采集,多个X-MaxN SDD能谱探测器配备于同一台扫描电镜,更便捷的样品重定位以及全新的EBSD“精准”功能。

超大面积分布

AZtec超大面积分布功能可以无人值守自动移动样品台采集超大面积的高分辨电子图像以及EDS/EBSD图像。专业的导航模式指导用户,即使是初次使用的用户,也可以获得超大面积的映射数据。因本次展会特别制作,采集高达1500个视场,每幅的分辨率为8K x 8K最终获得超过6千万像素的超大能谱\EBSD图像。在M&M现场展出一副3m宽的巨幅能谱图像,分辨率达到12K x 10K。

多能谱探测器配置

最高可以同时配备四台X-MaxN 探测器,也就是说采集能谱数据时是600mm2的晶体在工作。这种强大的探测器设备其实不足7cm2,可以最大限度地提高能谱分析的灵敏性及速度,对于难分析的样品是最佳的选择。

图像定位

在最新的“图像定位”技术中,AZtec系统控制电镜样品台移动,准确地回到之前记录的感兴趣区域位置。任何AZtec采集的图像可以被设为坐标,比如,用户可以在另一台电镜上快速定位到之前记录的图像位置,并且能谱图像也可以被用于重新定位到富集某元素的位置。

精准算法更新-终极EBSD

最新专利申请的“精准”算法也同时在本展公布。相较传统EBSD技术,现已呈现出无与伦比的精确度以及详实的细节体现。 比如,可以加强晶界的辨识度,区分微小的亚晶粒的微结构等。

牛津仪器纳米分析部市场总监,Del Redfern说:“我们一直致力于开发集多种功能多种技术于一体的AZtec系统,同时非常重视世界各地用户反馈的声音。正是因为采纳大家的意见和建议,成就了今天的多功能AZtec系统,这些特点也必将令今天到会的AZtec用户兴奋无比。”