牛津仪器获得MacRobert奖提名
2013年8月16日

牛津仪器出品的X-Max 硅漂移探测器入围2013年MacRobert皇家最高工程学奖。装配在扫描电镜(SEM)的X-Max大面积能谱仪探测器用来检测微纳米级别样品的化学成分。分析包括半导体内细微夹杂、枪击残留物甚至纳米材料。

MacRobert奖是英国历史最悠久荣誉最高的工程领域奖项,用来奖励既能带来巨大的商业价值又能推动社会发展的杰出发明创造。

投票委员会由多名学术大儒以及创业佼佼者组成。他们从现代工程浩瀚的成就项目中遴选而出最后三位角逐者。

牛津仪器纳米分析部总经理Ian Barkshire博士称:“能够进入决赛,我们感到非常荣幸。X-Max探测器的发展向技术及工程领域提出了新的课题,成为当今市场的领导产品,实现更小尺度的材料分析。”

MacRobert奖的评选主席John Robinson FREng说:“入围三家公司都在不同的领域对英国工业技术发展起到极大的推动作用,都是从创业的基础上发展至今成为世界领先的高科技公司。我们具有非常良好的科研基础,在这个基础上涌现出一大批成功的高科技企业先驱,我们今年提名的这三家企业都是在各自领域从无到有获得巨大进步的单位,MacRobert奖也鼓励更多的公司关注科技投入,引领行业发展。”