透射电镜能谱系统的革新:AZtecTEM
2012年5月11日

 

最近,具有世界领先的显微分析技术和产品的牛津仪器纳米分析部宣布AZtecTEM——专配透射电子显微镜的能谱软件正式发行。自从2011年扫描电子显微镜的Aztec分析系统公布后,AZtecTEM早已蓄势待发,意欲在透射电镜领域大展拳脚了。

AZtecTEM专门为TEM工作者提供了最新的显微分析技术平台。该系统可以最大限度的发挥新一代大面积能谱仪X-Max的优势,即使计数率比较低,也可以采集到足够多的计数,保证能谱分析的准确性。独一无二的Tru -Q引擎将材料的全面及细节分析提高到新的高度。TEM工作者首次可以利用AZtec's叠加校正得到的TruMap和TruLine,真正准确并实时地观察材料的化学成分变化。同时,Aztec TEM使用自动预估漂移校正,保证纳米尺度样品检测的准确性。

纳米分析部的执行董事Ian Barkshire博士谈到,“牛津仪器一直居于纳米技术的领先地位,我们已开发出多种高精尖分析设备,AztecTEM的推出是三十多年来解决并处理全世界众多TEM问题过程中不断总结发展的经验结晶,是全世界TEM工作者努力的结果。”

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