牛津仪器引领SDD技术创新
2010年8月12日

过去2年,超大面积硅漂移探测器X-Max系列在市场一直占有主导地位。日前牛津仪器发布了该系列的新一代产品,新产品具备更为卓越的分析性能,分辨率可达124eV(Mn) 、48eV(C)。

牛津仪器一直致力于科技创新,运用最新科技成果提供世界一流产品。这一优良传统不断促进硅漂移探测技术的发展。X-Max系列新产品的问世,意味着该技术取得前所未有的突破与发展。

X-Max系列新产品性能升级,是探测面积、速度和分辨率的最佳组合。该产品具有高达常规EDS探头十倍的立体角,且仍能保持高计数率、快速成像、以及优异的探测分析性能。