网络讲堂:X射线荧光方法(XRF)直接测定化学镍镀层中的NiP比例含量

地点:
中国
日期:
2017年1月12日
主要业务:
工业分析
网站:
oxinst.webex.com.cn/oxinst/onstage/g.php?MTID=edbb...

主题:X射线荧光方法(XRF)直接测定化学镍镀层中的NiP比例含量

日期与时间:2017年1月12日15:00

内容简介:化学镍(NiP)镀层应用在表面处理行业非常广泛,但生产工艺控制中对于NiP镀层的厚度和成分同时监控是一个难点。传统的分析方法是预设NiP比例,然后测试厚度。无法做到同时测量。
本次讲堂介绍一种使用XRF方法同时测定NiP镀层厚度和组成的牛津仪器解决方案。通过对测试所需仪器的硬件介绍,几个具体案例和实际测试数据来说明NiP厚度与组成同时测量的可行性。