XRF (X-ray Fluorescence) is a proven technique for material analysis in a broad range of industries and applicationsXRF 的定义

X射线组成电磁波谱的一部分,通过能量(千电子伏 - KeV)或波长(纳米 - nm)来表示。 X射线荧光是一个原子内变化的结果。一个稳定的原子是由一个原子核和绕它轨道运行的电子组成。绕轨道运行的电子形成不同壳层:每个壳层是由相同能量级的电子组成。当高能量入射(初级)X光与原子碰撞,就会扰乱这种稳定性。一个电子从低能量级别被激发出(例如K层:见图表),就形成一个空缺。于是,另一个电子从一个更高的能量级别(如L层)来填补这一空缺。

在这些层次之间的电子移动产生的能量差被释放出来形成二次X射线,这是元素的特性。这个过程称为X射线荧光。

XRF作为材料分析领域一项成熟技术,可为各个行业提供分析解决方案:从材料可靠性鉴定废旧金属回收、测量石油中的硫、金属表面镀层厚度测量到电子消费品行业中金属合金元素的质量控制。

通过XRF进行分析的优势在于:

  • 基本不需要样品制备
  • 无损分析
  • 从百万分之(PPM)到百分之(%)含量水平,对钠至铀进行精确分析
  • 不使用化学试剂
  • 固体,液体,粉末,薄膜颗粒等均可分析
  • 快速分析:得到结果只需几秒
  • 快捷简单的操作,只需简单的培训

X射线荧光分析仪,操作简单且分析结果精确。它无与伦比的检测能力可以满足最高的应用要求。